Кафедра компʼютерно-інтегровані технології виробництва приладів ПБФ КПI ім. Ігоря Сікорського
Кафедра компʼютерно-інтегровані технології виробництва приладів ПБФ КПI ім. Ігоря Сікорського
Кафедра компʼютерно-інтегровані технології виробництва приладів ПБФ КПI ім. Ігоря Сікорського

КОНТРОЛЬ ПАРАМЕТРІВ

Контроль параметрів якості функціональних покриттів: монографія / В.С.Антонюк, Г.С.Тимчик, Ю.Ю.Бондаренко та ін. – Київ: КПІ ім. Ігоря Сікорського, Вид-во «Політехніка», 2018. – 396 с.: іл. 120; табл. 24. ISBN 978-966-622-863-8

Систематизовано матеріали з основних методів, методик і засобів контролю параметрів якості функціональних покриттів у приладобудуванні.
Розглянуто основні механізми та принципи дії пристроїв для фізико-аналітичного визначення основних параметрів і характеристик тонких покриттів, які широко застосовують у приладобудуванні. Наведено результати практичного використання методів сучасного обладнання та деякі режими й особливості дослідження функціональних покриттів.
Для студентів, магістрів, аспірантів вищих технічних навчальних закладів, які спеціалізуються за напрямом підготовки «Приладобудування», а також викладачам вищих навчальних закладів, наукових співробітників і фахівців у галузі приладобудування.